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日置即將推出最新IM3570阻抗分析儀

發(fā)布時間:2010-06-23

產(chǎn)品特性:

  • 一臺儀器就可以實(shí)現(xiàn)不同測量條件的高速檢測要求
  • 測量頻率4Hz~5MHz,測試電平5mV~5V的LCR電橋與阻抗分析儀合二為一

應(yīng)用范圍:

  • 用于生產(chǎn)線
  • 用于研發(fā)


一臺儀器就可以實(shí)現(xiàn)不同測量條件的高速檢測要求

即將發(fā)售的阻抗分析儀IM3570是測量頻率4Hz~5MHz,測試電平5mV~5V的LCR電橋與阻抗分析儀合二為一的儀器。因?yàn)閷?yīng)不同測量條件都能高速連續(xù)測量,所以在需要使用眾多儀器檢查的生產(chǎn)線上,僅IM3570一臺便可實(shí)現(xiàn)。

壓電元件的共振特性的測量
通過頻率掃頻測量共振頻率和當(dāng)時的阻抗值,利用比較功能判別是否合格。另外,通過連續(xù)測量的功能,1KHz的 C值測量(LCR電橋)和頻率掃頻測量都能在這一臺儀器上實(shí)現(xiàn)。

功能高分子電容等的C-D值和低ESR測量
能夠連續(xù)測量功能性高分子電容的C-D值以及低ESR(100kHz)
與之前的產(chǎn)品(3522-50,3532-50)相比,低阻抗測量時的絕對精度和反復(fù)精度都提升了1位。

電感(線圈、變壓器)的DCR和L-Q測量
連續(xù)測量L-Q(1kHz,CC1mA)和DCR,能在同一畫面上顯示數(shù)值。
通過掃頻測量,能夠用圖表來顯示頻率特性和電平特性。

阻抗分析儀IM3570的介紹

推薦用于生產(chǎn)線中的特點(diǎn)和功能

  • 按照不同測量條件進(jìn)行連續(xù)測量

根據(jù)測量對象,1臺儀器可連續(xù)測量必須的多種測量條件。例如:可進(jìn)行DCR(直流電阻)和L-Q的連續(xù)測量、以及C-D(120Hz)和ESR(100kHz)的連續(xù)測量。

  • 通過高速測量加快檢查速度

縮短測量時間、實(shí)現(xiàn)最快2ms(1kHz)、1ms(100kHz)。和日置以往產(chǎn)品(代表值5ms)相比,大幅提高了速度,從而有利于增加檢查數(shù)量。

  • 和以往產(chǎn)品相比,反復(fù)精度提高了1位

和以往產(chǎn)品相比,將低阻抗測量時、高頻測量時的反復(fù)精度提高了1位。在提高了測量值的可信度的同時,可縮小設(shè)置生產(chǎn)線的判斷標(biāo)準(zhǔn)的幅度。

  • 具備接觸檢查功能

利用4端子測量(僅低阻抗高精度模式時)、2端子測量的接觸檢查功能,可防止測量電極為接觸被測物的情況下測量。

  • 測量線可延長至4m

利用4端子的結(jié)構(gòu)減小測量線的影響,以測量線長0/1/2/4m來保證精度。便于自動機(jī)的接線。

  • 可在內(nèi)部發(fā)生DC偏壓

僅主機(jī)可外加并測量最大2.5V的DC偏壓??砂残臏y量鉭電容等有極性的電容。

  • DC~5MHz可使用的4端子探頭

4端子探頭L2000(選件)采用有利于特性阻抗50Ω和提高測量精度的4端子構(gòu)造,是最適合于IM3570的探頭。


推薦用于研發(fā)的特點(diǎn)和功能

  • 頻率掃頻測量和電平掃頻測量

可對頻率特性(4Hz~5MHz)和電平特性進(jìn)行掃描和測量。輕松把握特性。

  • 可廣范圍的改變測量條件

測量頻率4Hz~5MHz(5位分辨率)
測量電平5mVrms~5Vrms(1mVrms分辨率)

  • 觸摸屏設(shè)計,輕松操作

延續(xù)以往產(chǎn)品中操作簡單的觸摸屏設(shè)計。采用了彩色液晶面板,能夠清晰的顯示數(shù)據(jù),還具備優(yōu)良的操作性,從而提高作業(yè)人員的工作效率。

  • U盤

可將測量結(jié)果和設(shè)定保存至前端面板連接的U盤中。

  • PC控制和PC軟件

標(biāo)配RS-232C、GP-IB、USB、LAN。
 

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