【導讀】要想成功地解決EMI/EMC問題并非易事。它需要時間、策略，需要保持冷靜的思考，有時還需要憑借來自經(jīng)驗的特殊“第六感”去判斷，因為在某些情況下，您所遇到的問題甚至與被測設備無關。
下面我舉兩個異常“問題”的實例來解釋以上陳述。在對不是由被測設備引起的輻射發(fā)射進行故障診斷時，我發(fā)現(xiàn)了兩個異常問題。一個問題是在我的實驗室中發(fā)現(xiàn)的，另一個問題則出現(xiàn)在離我大學很近的一家小公司中。
一天，在實驗室我試圖解決某臺設備的輻射發(fā)射問題。通常，我會從帶屏蔽室的實驗室中獲取某些發(fā)射結果，但只能作為參考數(shù)據(jù)，因為我并沒有暗室。然后，我試圖找到實驗室中有問題的頻率，確定底噪，然后在被測設備工作時對其進行調(diào)試。
在圖1(左)中，您可以看到設備被測量前的底噪情況。位于88～108MHz的FM調(diào)頻廣播發(fā)射機的發(fā)射可以明確確定。該測量結果在屏幕中保存為參考值。
圖1：左圖顯示底噪，右圖顯示輻射發(fā)射（紅色）和底噪（藍色），但右圖中在135 MHz - 235 MHz范圍內(nèi)底噪較高。原因是什么呢?
然后，我們測量了被測設備的輻射發(fā)射，如圖1右圖所示。我們發(fā)現(xiàn)了數(shù)字時鐘的輻射發(fā)射，同時發(fā)現(xiàn)了在135MHz-235MHz頻率范圍內(nèi)還有其它寬帶發(fā)射。我們試圖在被測設備中找到這些輻射發(fā)射，但始終未能成功找到。請注意從最初圖1(左)中顯示的藍色跡線看，并沒有看到如圖1右 圖中所顯示的較高的底噪。
更復雜的是，我們發(fā)現(xiàn)該處并不是一直有輻射發(fā)射，如圖2所示。圖2較高的底噪掩蓋了一些來自被測設備的輻射發(fā)射。
圖2：較高的底噪掩蓋了一些來自被測設備的輻射發(fā)射。
我們試圖找到被測設備印刷電路板(PCB)附近的“間歇性”輻射發(fā)射， 卻始終未果。到底是哪里出錯了呢？
后來，我注意到焊臺(如圖3所示)有時會因焊接需要進行開啟或關閉。
圖3：實驗室的儀器包括焊臺等。
圖4顯示了兩種情況下測得的底噪。您可以看到兩者之間的差別。
圖4：開啟及關閉焊臺時的底噪（被測設備關閉）
我們發(fā)現(xiàn)原來是這臺“無辜”的焊臺惹的禍，弄得我們暈頭轉(zhuǎn)向，曾一度妨礙我們作出問題診斷?？磥黼姶鸥蓴_真的是很強大，不可小覷！
第二個例子與第一個類似。當時我們正在離實驗室不遠的一家公司用電力電子轉(zhuǎn)換器測試一個系統(tǒng)。
當我們在3m處測量輻射發(fā)射時，我們注意到在低頻區(qū)域發(fā)現(xiàn)了大量輻射發(fā)射，如圖5所示。
圖5顯示被測設備的底噪(黃色)和輻射發(fā)射(紫色)。
圖5：顯示被測設備的底噪（黃色）和輻射發(fā)射（紫色）。
利用近場探頭我們發(fā)現(xiàn)輻射信號并非來自被測設備。似乎噪聲并非是底噪(屏幕上終止的黃色跡線)。是哪里出錯了嗎?
憑著對焊臺的了解和自身經(jīng)驗，我開始環(huán)顧四周，試圖尋找影響信號的因素。突然，我發(fā)現(xiàn)與一組近場探頭搭配使用的便攜式頻譜分析儀正在充電，如圖6所示。
圖6：便攜式頻譜儀通過充電器連接到AC電源
我把充電器拔下來。輻射發(fā)射立即從儀器屏幕上消失(如圖7所示)。
圖7：拔下射頻儀的充電器后背景發(fā)射降低
經(jīng)驗證明，在實驗室進行輻射或傳導發(fā)射的故障診斷時必須小心謹慎、思慮周全。在故障診斷過程中注意查看工具；查看并確保在您所測的頻段內(nèi)沒有受到充電器、焊臺、燈具等設備輻射發(fā)射的影響；不斷檢查底噪；一定要仔細查看，慎之又慎。
請記住，這類問題也會出現(xiàn)在屏蔽室中。在調(diào)試發(fā)射問題時，請查看室內(nèi)是否有焊臺或充電器等設備正在運行。
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文章來源于電子技術設計。
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