你的位置:首頁 > RF/微波 > 正文

高精度與高功率密度齊頭并進(jìn),解鎖數(shù)據(jù)中心測試的未來藍(lán)圖

發(fā)布時(shí)間:2024-06-28 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】為了滿足高速數(shù)據(jù)傳輸需求,數(shù)據(jù)中心蓬勃發(fā)展,在這個(gè)過程中光器件的作用變得越來越重要。實(shí)現(xiàn)電信號(hào)與光信號(hào)之間的高效轉(zhuǎn)換需要精確的測試解決方案,尤其是用于對(duì)高度集成的光器件執(zhí)行測試的解決方案。盡管這些器件的測試還面臨嚴(yán)峻挑戰(zhàn),但已經(jīng)有一些創(chuàng)新的解決方案能夠提高測試效率和準(zhǔn)確度。


摘要


為了滿足高速數(shù)據(jù)傳輸需求,數(shù)據(jù)中心蓬勃發(fā)展,在這個(gè)過程中光器件的作用變得越來越重要。實(shí)現(xiàn)電信號(hào)與光信號(hào)之間的高效轉(zhuǎn)換需要精確的測試解決方案,尤其是用于對(duì)高度集成的光器件執(zhí)行測試的解決方案。盡管這些器件的測試還面臨嚴(yán)峻挑戰(zhàn),但已經(jīng)有一些創(chuàng)新的解決方案能夠提高測試效率和準(zhǔn)確度。


正文


為了滿足高速數(shù)據(jù)傳輸需求,數(shù)據(jù)中心蓬勃發(fā)展,在這個(gè)過程中光器件的關(guān)鍵作用日益顯現(xiàn)。實(shí)現(xiàn)電信號(hào)與光信號(hào)之間的高效轉(zhuǎn)換需要精確的測試解決方案,尤其是能夠?qū)Ω叨燃傻墓馄骷?zhí)行測試的解決方案。光器件能夠高效轉(zhuǎn)換電信號(hào)和光信號(hào),在支撐現(xiàn)代數(shù)據(jù)中心發(fā)展過程中的作用舉足輕重。尤其是用戶對(duì)于更高速度、更小尺寸和更大數(shù)據(jù)流量的需求不斷增長,推動(dòng)了高度集成的光器件的長足發(fā)展。這些先進(jìn)的器件將眾多功能和元器件整合在一起,有助于打造高效的小型化系統(tǒng)。


高精度與高功率密度齊頭并進(jìn),解鎖數(shù)據(jù)中心測試的未來藍(lán)圖

圖 1. 對(duì)集成的光器件執(zhí)行測試需要大量高精度的偏置信號(hào)源


測試高度集成的光器件需要用到大量高精度的偏置信號(hào)源。以圖 1 所示為例,對(duì)集成的可調(diào)諧波長激光源執(zhí)行測試,需要為激光二極管提供精密的電流源,以確穩(wěn)定的保光學(xué)性能。此外,在測試過程中還需要為每個(gè)加熱器提供高精度的偏置信號(hào)源,以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)半導(dǎo)體光放大器(SOA)的波長。同樣,相干光收發(fā)信機(jī)也需要采用多個(gè)能夠與相位控制電極精準(zhǔn)同步的高精度偏置信號(hào)源,以便將電信號(hào)準(zhǔn)確轉(zhuǎn)換為光信號(hào)。


為了測試可調(diào)諧激光源和相干接收機(jī)的光功率和波長,工程師要通過非常精細(xì)的偏置掃描來完成詳細(xì)的表征。因此,他們會(huì)遇到測試時(shí)間顯著延長以及熱效應(yīng)帶來預(yù)料之外的波長偏移等問題。為了解決這類問題,一種有效方案是盡量縮短每個(gè)掃描步驟的持續(xù)時(shí)間,實(shí)現(xiàn)快速掃描。


光器件測試的必要性


光器件是高速數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)的命脈。無論是把光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的接收機(jī),還是對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行載波整形然后編碼到光載波上的調(diào)制器,這些元器件構(gòu)成了現(xiàn)代通信網(wǎng)絡(luò)的基石。人們不懈地追求更高的數(shù)據(jù)傳輸速率,希望數(shù)據(jù)中心具有更大帶寬,這樣的需求給光器件帶來了巨大的負(fù)擔(dān)。測試這些元器件的關(guān)鍵意義在于確保它們在數(shù)據(jù)中心的動(dòng)態(tài)環(huán)境下維持可靠性、出色的性能和兼容性。


對(duì)光器件執(zhí)行測試是保證元器件能夠經(jīng)受考驗(yàn)實(shí)現(xiàn)連續(xù)運(yùn)行的關(guān)鍵舉措。嚴(yán)格的測試有助于發(fā)現(xiàn)元器件中可能存在的弱點(diǎn)、漏洞或性能局限,以便工程師完善設(shè)計(jì)并實(shí)施改進(jìn)。隨著數(shù)據(jù)中心架構(gòu)的不斷升級(jí)以及對(duì)能效要求的進(jìn)一步提高,測試對(duì)于盡最大可能降低光器件的功耗并優(yōu)化熱特性有著重大意義。


準(zhǔn)確的測試還有助于驗(yàn)證理論模型和仿真過程,確保這些元器件在現(xiàn)實(shí)場景中的表現(xiàn)與預(yù)期相符。工程師必須確信光器件能夠在各種條件下可靠地工作,完美應(yīng)對(duì)溫度變化、功率波動(dòng)和信號(hào)失真等情況。


除了確保單個(gè)元器件的穩(wěn)健性,測試對(duì)于提高整個(gè)系統(tǒng)的集成度也意義重大。通過在測試階段發(fā)現(xiàn)并解決兼容性、信號(hào)完整性和互操作性等問題,能夠避免在數(shù)據(jù)中心部署的后期階段出現(xiàn)潛在隱患。


遵守行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和法規(guī)至關(guān)重要,全面的測試是滿足乃至超越這些基準(zhǔn)要求的關(guān)鍵。無論標(biāo)準(zhǔn)涉及的是光功率電平、信噪比還是比特誤碼率,測試都能確保光器件符合行業(yè)制定的嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)。


從本質(zhì)上講,光器件測試的重要性遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了質(zhì)量控制,成為了提高數(shù)據(jù)中心網(wǎng)絡(luò)能力一個(gè)戰(zhàn)略性舉措。通過對(duì)元器件執(zhí)行嚴(yán)格的測試,工程師為推動(dòng)創(chuàng)新掃清了障礙,能夠進(jìn)一步提升數(shù)據(jù)中心基礎(chǔ)設(shè)施的效率、可靠性和整體性能,制勝未來。


光器件測試面臨的挑戰(zhàn)


在數(shù)據(jù)中心環(huán)境下完成復(fù)雜的光器件直流(DC)偏置測試對(duì)工程師而言存在諸多挑戰(zhàn)。本文旨在剖析這些挑戰(zhàn),看看工程師會(huì)遇到哪些障礙。


精度要求:控制偏置電壓和電流需要的精度是一個(gè)非常大的挑戰(zhàn)。光器件與生俱來就對(duì)偏置變化非常敏感,要求的精度水平超出了傳統(tǒng)測試設(shè)備的極限。由于光器件的容差小,又具有動(dòng)態(tài)特性,因此達(dá)到并保持必要的精度頗有難度。


動(dòng)態(tài)運(yùn)行條件:數(shù)據(jù)中心環(huán)境是一個(gè)動(dòng)態(tài)環(huán)境,溫度、功率和信號(hào)條件的波動(dòng)都是常態(tài)。在這樣的動(dòng)態(tài)運(yùn)行條件下保持穩(wěn)定的直流偏置相當(dāng)有難度。光器件必須始終如一地可靠運(yùn)行,即便在偏置電平快速變化的情況下也是如此,因此對(duì)這些元器件進(jìn)行測試就非常有必要。


調(diào)制器的非線性特性:調(diào)制器作為光通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵元器件,其非線性特性會(huì)讓測試流程變復(fù)雜。傳統(tǒng)的測試設(shè)備可能需要幫助才能準(zhǔn)確捕捉和再現(xiàn)復(fù)雜的調(diào)制特性,這樣可能會(huì)導(dǎo)致實(shí)際操作條件下的調(diào)制器性能評(píng)估不準(zhǔn)確。


接收機(jī)靈敏度:光接收機(jī)負(fù)責(zé)將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),它容易受到偏置電平變化的影響。在接收機(jī)上維持穩(wěn)定、準(zhǔn)確的偏置電平是一項(xiàng)非常復(fù)雜且細(xì)致的工作,因?yàn)榫退闶禽p微的偏差也會(huì)影響信號(hào)質(zhì)量,繼而影響整個(gè)通信系統(tǒng)的可靠性。準(zhǔn)確地捕捉與光對(duì)應(yīng)的大電流變化也極具挑戰(zhàn)性。


通道密度越來越高:高度集成的光器件具有更多的測試端口和元器件,需要大量高精度電源和巨大的空間。例如,一體化可調(diào)諧激光源需要為激光二極管提供精密電流源,才能確保穩(wěn)定的光性能,還需要為加熱器提供高精度的偏置信號(hào)源,以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)波長。相干光調(diào)制器也需要采用多個(gè)能夠與相位控制電極精準(zhǔn)同步的高精度偏置信號(hào)源,以便將電信號(hào)準(zhǔn)確轉(zhuǎn)換為光信號(hào)。


對(duì)現(xiàn)實(shí)世界的仿真:在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下仿真現(xiàn)實(shí)場景非常具有挑戰(zhàn)性。工程師必須確保測試條件能夠準(zhǔn)確反映數(shù)據(jù)中心運(yùn)行過程中的復(fù)雜情形。這包括仿真光器件在數(shù)據(jù)中心實(shí)際運(yùn)行中可能遇到的各種變化,例如負(fù)載變化和環(huán)境溫度波動(dòng)。


總之,對(duì)數(shù)據(jù)中心的光器件執(zhí)行直流偏置測試面臨多重挑戰(zhàn),其中包括密度、精度、動(dòng)態(tài)條件、非線性特性、靈敏度、高速數(shù)據(jù)傳輸需求和對(duì)真實(shí)場景的仿真。應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)需要采用創(chuàng)新的方法和專門的設(shè)備,而源表模塊(SMU)在突破這些復(fù)雜障礙方面發(fā)揮了關(guān)鍵作用。


對(duì)光器件展開高精度、高功率密度的測試


為了應(yīng)對(duì)數(shù)據(jù)中心環(huán)境下光器件直流偏置測試面臨的多方面挑戰(zhàn),工程師將目光轉(zhuǎn)向了多功能 SMU。接下來本文會(huì)詳細(xì)探討SMU 在幫助工程師應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)時(shí)所發(fā)揮的關(guān)鍵作用。


高精度和穩(wěn)定性


SMU 的精妙之處在于它能精確測量偏置電壓和電流。SMU 具有超高精度,使得工程師能夠極其準(zhǔn)確地設(shè)置和保持偏置電平。SMU 還具有卓越的穩(wěn)定性,確保光器件獲得一致且可靠的偏置條件。SMU 可通過低噪聲直流信號(hào)降低引入不必要干擾的風(fēng)險(xiǎn),這些干擾可能會(huì)影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確度。


智能觸發(fā)控制


高精度與高功率密度齊頭并進(jìn),解鎖數(shù)據(jù)中心測試的未來藍(lán)圖

圖 2. 能夠靈活同步的智能觸發(fā)系統(tǒng)流程圖


SMU 擅長動(dòng)態(tài)偏置控制,這是處理在動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)中心條件下運(yùn)行的光器件時(shí)用到的一項(xiàng)關(guān)鍵功能。有些 SMU 還有其他功能,例如用于高速時(shí)序控制的智能觸發(fā)系統(tǒng),如圖 2 所示。SMU 的動(dòng)態(tài)能力使得工程師能夠仿真偏置電平的快速變化,重建光器件在高速數(shù)據(jù)傳輸環(huán)境下面臨的真實(shí)場景。這不僅能確保測試的準(zhǔn)確性,還能洞察光器件在動(dòng)態(tài)運(yùn)行條件下的性能。


調(diào)制器的非線性特性


SMU 能管理調(diào)制器的非線性特性。憑借 SMU 的可編程性和高精度等優(yōu)勢,工程師能夠準(zhǔn)確捕捉和再現(xiàn)調(diào)制器的調(diào)制特性。通過提供穩(wěn)定、可控的偏置環(huán)境,SMU 可以深入分析調(diào)制器的性能,確保測試結(jié)果與實(shí)際預(yù)期保持一致。

接收機(jī)靈敏度


SMU 的一大優(yōu)勢是能解決接收機(jī)的靈敏度問題,因?yàn)樗鼈兡軌蜻M(jìn)行必要的微調(diào)控制,以便為接收機(jī)提供穩(wěn)定的偏置條件。借助 SMU,工程師可以定制偏置參數(shù)來匹配光接收機(jī)的靈敏度,確保在較寬的電流范圍下和可重復(fù)測試條件下的測試精度。需要特別指出的是,即使偏置電平出現(xiàn)細(xì)微偏差,光接收機(jī)的性能也會(huì)受到影響,在這種情況下,SMU 的精密度就顯得尤為關(guān)鍵。


高功率密度的、緊湊的外形設(shè)計(jì)


高精度與高功率密度齊頭并進(jìn),解鎖數(shù)據(jù)中心測試的未來藍(lán)圖

圖 3. 20 通道偏置解決方案設(shè)置示例


如圖 3 所示, 基于高通道密度對(duì)SMU 進(jìn)行外形尺寸設(shè)計(jì),能為用戶節(jié)省寶貴的機(jī)架空間,盡可能縮小測試系統(tǒng)的占地面積。有些靈活的 SMU 支持混搭模塊配置,實(shí)現(xiàn)靈活擴(kuò)展。集成了脈沖發(fā)生器和數(shù)字化儀功能的一體化SMU 解決方案,能夠減少所需測試儀器的數(shù)量,縮小系統(tǒng)的占地面積。SMU 在小巧的外形尺寸下提供多通道、高精度的電流偏置,以應(yīng)對(duì)光器件測試面臨的挑戰(zhàn)。它不僅精度高,還易于集成,可以簡化光器件的測試評(píng)估流程,節(jié)省大量空間,同時(shí)提高測試效率。


對(duì)現(xiàn)實(shí)世界的仿真


SMU 有助于在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下對(duì)現(xiàn)實(shí)世界中的真實(shí)場景進(jìn)行仿真。得益于 SMU 的動(dòng)態(tài)和可編程特性,工程師可以重建真實(shí)數(shù)據(jù)中心運(yùn)行下的各種條件。無論是仿真負(fù)載變化、環(huán)境溫度波動(dòng)還是其他動(dòng)態(tài)因素,SMU 都非常靈活,能確保在接近真實(shí)場景的條件下對(duì)光器件進(jìn)行測試。


結(jié)論


要想解決光器件直流偏置測試中遇到的各種挑戰(zhàn),包括密度、精度、智能觸發(fā)控制、非線性特性、靈敏度、高速數(shù)據(jù)傳輸需求和對(duì)真實(shí)場景的仿真等難題,對(duì)于工程師而言,SMU 是一種不可或缺的利器。SMU 的多功能和高精度這兩大特性,對(duì)于在數(shù)據(jù)中心環(huán)境下可靠地測試高性能光器件起到了至關(guān)重要的作用。

(來源:是德科技,作者:是德科技產(chǎn)品營銷經(jīng)理Gobinath Tamil Vanan)


免責(zé)聲明:本文為轉(zhuǎn)載文章,轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請(qǐng)聯(lián)系小編進(jìn)行處理。


推薦閱讀:

低成本、高可用 開啟汽車LED照明新時(shí)代

增強(qiáng)電機(jī)控制編碼器應(yīng)用的通信可靠性和性能

如何從可穿戴設(shè)備過渡到醫(yī)療設(shè)備?

貿(mào)澤連續(xù)第六年榮獲Molex亞太區(qū)年度電子目錄代理商大獎(jiǎng)

實(shí)例分享!BMS采樣板針對(duì)低頻磁場抗擾測試解決方案


特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書下載更多>>
熱門搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉