你的位置:首頁 > 測試測量 > 正文

應(yīng)對一致性測試特定挑戰(zhàn),需要可靠的PCIe 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

發(fā)布時間:2021-10-20 來源:泰克科技 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】由于 5G 和IoT互聯(lián)設(shè)備及相關(guān)高帶寬要求預(yù)計將大幅度攀升,所以數(shù)據(jù)中心運(yùn)營商需要遷移到帶寬更高的網(wǎng)絡(luò),其中的帶寬要超過當(dāng)前通常使用的100 GB 以太網(wǎng) (100GE)。 遷移到下一代 400GE 網(wǎng)絡(luò)要求更快速的內(nèi)存和更高速的串行總線通信。除了把以太網(wǎng)接口升級到 400GE,服務(wù)器還需要采用速度更高的串行擴(kuò)展總線 接口和內(nèi)存。

 

由于 5G 和IoT互聯(lián)設(shè)備及相關(guān)高帶寬要求預(yù)計將大幅度攀升,所以數(shù)據(jù)中心運(yùn)營商需要遷移到帶寬更高的網(wǎng)絡(luò),其中的帶寬要超過當(dāng)前通常使用的100 GB 以太網(wǎng) (100GE)。 遷移到下一代 400GE 網(wǎng)絡(luò)要求更快速的內(nèi)存和更高速的串行總線通信。除了把以太網(wǎng)接口升級到 400GE,服務(wù)器還需要采用速度更高的串行擴(kuò)展總線 接口和內(nèi)存。


PCIe (PCI Express) 擴(kuò)展總線現(xiàn)在正遷移到最新標(biāo)準(zhǔn)化的 PCIe 5.0,也稱為 PCIe Gen 5。 與此同時,DDR ( 雙倍數(shù)據(jù)速率 ) 內(nèi)存也正從 DDR 4.0 遷移到 DDR ≈ 5.0。 PCIe Gen 5 規(guī)范是 PCI-SIG開 發(fā)的 PCIe 4.0 標(biāo)準(zhǔn)的快速晉升增強(qiáng)版本。PCI-SIG 是一家標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu),規(guī)定了所有PCIe規(guī)范。隨著PCIe 5.0 插件機(jī)電 (CEM) 規(guī)范的最終確定,PCIe 5.0 標(biāo)準(zhǔn)最近完成并于 2021 年 6 月發(fā)布,這是 2019 年發(fā)布的現(xiàn)有 PCIe 5.0 基本 ( 硅 ) 規(guī)范的姊妹篇。


PCIe 標(biāo)準(zhǔn)演進(jìn),傳輸速度翻番


最初的并行 PCI 總線于 1992 年問世,旨在擴(kuò)展個人電腦的功能,允許添加顯卡和網(wǎng)卡及許多其他外設(shè)。PCIe 是一種高速串行總線, 旨在代替 PCI 及其他現(xiàn)有的傳統(tǒng)接口,如 PCI-X (PCI eXtended) 和 AGP ( 加速圖形端口 )。PCIe 不僅吞吐量高,而且體積小,鏈路寬度可以在 ×1 路、×2 路、 ×4 路、×8 路、×16 路間擴(kuò)充。PCIe 基于根復(fù)數(shù) ( 系 統(tǒng) / 主機(jī) ) 與端點(diǎn) ( 插件 ) 之間的點(diǎn)到點(diǎn)總線拓?fù)?,支持基于包的全雙工通信。


應(yīng)對一致性測試特定挑戰(zhàn),需要可靠的PCIe 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

PCIe 雙工鏈路通信


PCIe 1.0 標(biāo)準(zhǔn)在 2003 年問世,提供了 2.5 G 傳送 / 秒 (2.5 GT/s) 的速率。PCIe 目前提供 2.5 GT/s ~ 32 GT/s 的速率。 PCIe 5.0 把 PCIe 4.0 傳送速率翻了一番,從 16 GT/s 提高到 32 GT/s,但沒有提供任何新增功能,因?yàn)楫?dāng)時的目標(biāo)是在最短的時間內(nèi)提供額外的速度。


目前發(fā)布的所有 PCIe 標(biāo)準(zhǔn)都采用非歸零 (NRZ) 信令。 但是,PCI-SIG 目前正在開發(fā) PCIe Gen 6 規(guī)范,將再次把傳送速率翻一番,達(dá)到 64 GT/s,將從 NRZ 信令遷移出去。而 Gen 6 第六代規(guī)范將采用 PAM-4信令,以及低時延FEC (前向糾錯) 技術(shù)來改善數(shù)據(jù)完整性。


所有 PCIe 標(biāo)準(zhǔn)都必須向下兼容,也就是說,PCIe 5.0 (32 GT/s 最大數(shù)據(jù)速率 ) 還必須支持 2.5 GT/s、5 GT/ s、8GT/s、16 GT/s 及 32 GT/s。


應(yīng)對一致性測試特定挑戰(zhàn),需要可靠的PCIe 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

PCIe 規(guī)范時間線 


 應(yīng)對一致性測試特定挑戰(zhàn),需要可靠的PCIe 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

PCIe 通路和鏈路速度


PCIe 一致性測試,面臨特定挑戰(zhàn)


PCI-SIG 是非專有 PCI 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和相關(guān)規(guī)范的開發(fā)者,PCIe現(xiàn)在已經(jīng)成為服務(wù)器事實(shí)上的標(biāo)準(zhǔn)。PCI-SIG 規(guī)定了 PCI 規(guī)范,以支持要求的 I/O 功能,同時向下兼容以前的規(guī)范。為了能夠在整個行業(yè)內(nèi)采用 PCI 技術(shù),PCI-SIG 同時支持互操作能力和一致性測試,包括實(shí)現(xiàn)一致性必需執(zhí)行及通過的測試。 


PCI-SIG 允許會員針對其他會員產(chǎn)品和測試套件進(jìn)行互操作能力測試,參加測試的產(chǎn)品要么通過測試,要么未通過測試。為了通過正式的一致性測試, 產(chǎn)品必須通過至少 80% 的互操作能力測試,并通過所有標(biāo)準(zhǔn)性的一致性測試。


PCIe 5.0 面臨特定的挑戰(zhàn)。PCIe 4.0 的最大數(shù)據(jù)速率是 16 GT/s,是 PCIe 上一代的速度加強(qiáng)規(guī)范,經(jīng)驗(yàn)證實(shí)現(xiàn)起來要比以前的標(biāo)準(zhǔn)更難。在 PCIe 5.0 中,計算機(jī) PCIe 通道和主板都面臨著明顯的挑戰(zhàn),因?yàn)橐幚?32 GT/s 數(shù)據(jù)速率。除了在較低數(shù)據(jù)速率遇到的挑戰(zhàn)外,PCIe 5.0 設(shè)備預(yù)計還會遇到明顯的信號完整性挑戰(zhàn)。泰克擁有針對所有數(shù)據(jù)速率 (Tx、Rx 和 PLL 帶寬 ) 的 PCI-SIG 批準(zhǔn)的測試套件。


應(yīng)對一致性測試特定挑戰(zhàn),需要可靠的PCIe 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

泰克 PCIe Gen 5 Tx 一致性測試解決方案


泰克是 PCI-SIG 的主要貢獻(xiàn)者,為 PCIe 4.0 和 5.0 物理層測試規(guī)范做出了重大貢獻(xiàn),為確定 PCIe 6.0 Tx/Rx 測量方法做了大量探尋道路式的試驗(yàn)。泰克還在 PCIe 標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)和實(shí)現(xiàn)過程中在一致性和互操作能力測試方面發(fā)揮了關(guān)鍵作用。


PCIe 5.0 發(fā)射機(jī)測試,適當(dāng)?shù)臏y試設(shè)備和自動化軟件至關(guān)重要


在開發(fā) PCIe Gen 5 發(fā)射機(jī)器件時,不管是在基本 ( 芯片 ) 級還是在 CEM ( 系統(tǒng)和插件 ) 級,都將要求芯片級驗(yàn)證 ( 通常由 PHY IP 公司執(zhí)行 ) 和預(yù)一致性測試, 然后才能把器件提交給 PCI-SIG 進(jìn)行正式的一致性測試。因此,獲得適當(dāng)?shù)臏y試設(shè)備及相關(guān)自動化軟件至關(guān)重要。 


PCIe 一致性測試包括: 


● 電氣測試 - 評估平臺、插件發(fā)射機(jī) (Tx) 和接收機(jī) (Rx) 特點(diǎn) 

● 配置測試 - 評估 PCIe 器件中的配置空間 

● 鏈路協(xié)議測試 - 評估器件的鏈路級協(xié)議特點(diǎn) 

● 交易協(xié)議測試 - 評估器件的交易級協(xié)議特點(diǎn) 

● 平臺 BIOS 測試 - 評估 BIOS 識別和配置 PCIe 器件的能力


在電氣測試方面,它分成兩套測量,一套是基本級,一套是 CEM 級。這些測試又分為標(biāo)準(zhǔn)性測試和參考性測試:


應(yīng)對一致性測試特定挑戰(zhàn),需要可靠的PCIe 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

PCIe 基本和 CEM 一致性測量


應(yīng)對一致性測試特定挑戰(zhàn),需要可靠的PCIe 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

眼圖 


這兩類測量都要求高帶寬實(shí)時示波器,要能夠捕獲數(shù)據(jù)波形。然后采用后處理技術(shù),進(jìn)行基本規(guī)范和 CEM 規(guī)范中要求的相應(yīng)的電壓和定時測量。不相關(guān)抖動考查在去除包和通道碼間干擾 (ISI) 后系統(tǒng)固有的抖動。 除了抖動外,示波器還要進(jìn)行眼高和眼寬測量?;疽?guī)范中規(guī)定了大量的“一致性測試碼型”。推薦使用包含多次發(fā)生的整個一致性測試碼型的波形記錄,來構(gòu)建代表性眼圖。 


在器件的基本 Tx 測試中,規(guī)范規(guī)定直接在發(fā)射機(jī)的引腳上進(jìn)行測量。如果不能直接接入,那么測試點(diǎn)應(yīng)盡可能靠近器件引腳。如果用戶很好地了解 S 參數(shù), 那么通過物理復(fù)現(xiàn)通道或仿真,可以反嵌任何接續(xù)通道損耗。從 4.0 規(guī)范開始,描述了另一種反嵌技術(shù), 在波形后處理過程中,對不相關(guān)抖動測量應(yīng)用 CTLE ( 連續(xù)時間線性均衡 ),可以有效消除直到引腳的 ISI。


應(yīng)對一致性測試特定挑戰(zhàn),需要可靠的PCIe 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

Tx 均衡器預(yù)置


提交 PCI-SIG 認(rèn)證的任何 PCIe 5.0 產(chǎn)品,都必須使用規(guī)定的 Tx 均衡器設(shè)置預(yù)置成功地通過一致性測試,支持速度從 2.5 GT/s 直到 32 GT/s。這些預(yù)置用來均衡碼流內(nèi)部的頻率相關(guān)衰減差引起的碼間干擾,改善了信號完整性。每個預(yù)置都是下沖 ( 光標(biāo)前 ) 和去加重 ( 光標(biāo)后 ) 的特定組合。


目前有各種特定實(shí)現(xiàn)方案,讓 DUT 發(fā)射機(jī)掃描通過 各種數(shù)據(jù)速率和 Tx EQ 預(yù)置。但是,基本規(guī)范規(guī)定了一種常用的方法,其中向接收機(jī)的通路 0 傳送一個 100 MHz時鐘突發(fā)。這可以采用任意函數(shù)發(fā)生器(AFG) 自動實(shí)現(xiàn)。


對最大速率為32 GT/s 的 PCIe 鏈 路, 基本時鐘 (Refclks) 存在著新的驗(yàn)證挑戰(zhàn)?;疽?guī)范已經(jīng)與數(shù)據(jù)速率成比例擴(kuò)大抖動極限,但 Gen5 不成比例地把極限下降到 150 fs。這種高頻抖動測量要求正確應(yīng)用公共時鐘傳送功能,并考慮最壞情況傳送延遲。這一最新版規(guī)范還把測量從基本級規(guī)范 ( 芯片級 ) 推高到是 CEM 規(guī)范要求 ( 外表級 ),必需滿足一致性測試。


應(yīng)對一致性測試特定挑戰(zhàn),需要可靠的PCIe 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

CEM 插件 PCIe 5.0 一致性測試及自動預(yù)置切換


泰克 PCIe 解決方案,讓一致性測試更有信心


示波器帶寬和采樣率要求。對基本 Tx 測試,每條 PCIe 5.0 通路以 16 GHz 速率運(yùn)行( 因?yàn)閮蓚€比特可以在一個周期中發(fā)送 ),三階諧波達(dá)到 48 GHz。由于在三階諧波以上沒有太有效的信號信息,所以 PCIe 5.0 基本 Tx 測試只需 50 GHz 帶寬的實(shí)時示波器。對 CEM Tx 測試,要在最壞情況通道的末端附近進(jìn)行測量,減少了高頻內(nèi)容,要求 33 GHz 的帶寬。為確保充足的波形后處理 (SigTest),要求每個單位間隔最少 4 個點(diǎn),CEM 允許最多 2x sinx/ x 插補(bǔ),所以最低采樣率要達(dá)到 128 GS/s。


自動一致性測試。在一致性測試中,手動執(zhí)行分析既耗時又容易出錯。為節(jié)省時間,最好使用自動化軟件,其不僅可以減少工作量,還可以加快一致性測試速度。對電氣驗(yàn)證, PCI-SIG 提供了SigTest 離線分析軟件,使用示波器采集的數(shù)據(jù)執(zhí)行分析。自動化軟件還控制被測器件 (DUT),使用任意函數(shù)發(fā)生器作為碼型源,讓 DUT 自動通過一致性測試所需的各種速度、去加重和預(yù)置。


一輪完整的一致性測試要求在不同的 DUT 設(shè)置下每條通路采集多個波形。這個波形集合將按需要分析的通路數(shù) ( 最多 16 條 ) 提高。軟件要能夠管理和存儲分析及未來參考要求的數(shù)據(jù),這對任何一致性測試解決方案來說都是一個重要指標(biāo)。自動化軟件還可以調(diào)節(jié)示波器水平和垂直設(shè)置及采集度。除了配置和分析外,還可以使用自動化軟件管理采集的多個波形。


自動化軟件可以選擇數(shù)據(jù)速率、電壓擺幅、預(yù)置和要執(zhí)行的測試。它還可以提供選項,嵌入包參數(shù)模型,反嵌電纜、 測試夾具或到達(dá)規(guī)范規(guī)定的目標(biāo)測試點(diǎn)所需的其他元素。來自軟件的分析結(jié)果通??梢詤R編成 PDF 或 HTML 格式的報告,可以包括通過 / 未通過測試摘要、眼圖、設(shè)置 配置和用戶備注。


通過使用泰克 DPO70000SX 系列示波器和 AFG31252 任意函數(shù)發(fā)生器,PCI Express Gen1/2/3/4/5 解決方案可以在基本級 ( 芯片 ) 和 CEM 級 ( 系統(tǒng)和插件 ) 自 動進(jìn)行發(fā)射機(jī)驗(yàn)證和一致性測試。 


TekExpressPCIe 5.0 Tx 自動軟件功能: 


●使 DUT 自主步進(jìn)通過不同的速度、碼型和 Tx EQ 預(yù)置 

●在進(jìn)行測量前,在發(fā)射機(jī)上檢驗(yàn)信號是否正確 

●執(zhí)行通道和包嵌入和反嵌 

●支持 SigTest 和 SigTest Phoenix 各版軟件和模板文件 

●使用 Silicon Labs. “PCIe 時鐘抖動工具”和泰克 DPOJET 軟件進(jìn)行 100 MHz 參考時鐘抖動和信號完整性測量


在歷史上,當(dāng)新一代 PCIe 器件進(jìn)入一致性測試時,很大一部分器件在進(jìn)行 PHY 和鏈路訓(xùn)練一致性測試時,會在第一次互操作能力講習(xí)會中通不過測試。在PCI-SIG講習(xí)會前,確保完善的示波器、AFG、BERT( 用 于 Rx 測試 ) 和自動化軟件解決方案到位至關(guān)重要。泰克 PCIe 測試和調(diào)試 Tx、Refclk 和 Rx 解決方案可以在互操作能力測試前引導(dǎo)您完成一致性測試和調(diào)試,確保您的設(shè)計滿懷信心地滿足 PCI-SIG? PCIe 標(biāo)準(zhǔn)要求。


關(guān)于泰克科技


泰克公司總部位于美國俄勒岡州畢佛頓市,致力提供創(chuàng)新、精確、操作簡便的測試、測量和監(jiān)測解決方案,解決各種問題,釋放洞察力,推動創(chuàng)新能力。70多年來,泰克一直走在數(shù)字時代前沿。



免責(zé)聲明:本文為轉(zhuǎn)載文章,轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請電話或者郵箱聯(lián)系小編進(jìn)行侵刪。



推薦閱讀:

埃莎挑戰(zhàn)焊接極限,NEPCON ASIA 2021等您來看!

以太網(wǎng)供電(PoE)和智能樓宇:第二部分

以太網(wǎng)供電(PoE)和智能樓宇:第一部分

從玻璃貼膜到測試測量,都離不開的雙端口雙極性電源~

如何能夠提高SR控制器的效率?

特別推薦
技術(shù)文章更多>>
技術(shù)白皮書下載更多>>
熱門搜索
?

關(guān)閉

?

關(guān)閉