另外，本文還將探究數(shù)字電位計與傳統(tǒng)電位計相比的設(shè)計優(yōu)缺點。在本文中，還使用了許多實例來證明：數(shù)字電位計所能提供的改善比更傳統(tǒng)的替代解決方案還要顯著。例如，在運算放大器中，用數(shù)字電位計作為反饋電阻，可以使運算放大器的增益根據(jù)輸入信號的幅度而交替。

 

數(shù)字電位計是數(shù)控可變電阻器，可取代功能等同的機械電阻器。盡管數(shù)字電位計在功能上與機械電位計類似，但在技術(shù)規(guī)格、可靠性以及可重復(fù)性等方面極為出眾，適用于許多設(shè)計。電位計的作用是通過改變設(shè)備電阻來調(diào)整電壓或電流。然后，當(dāng)與其他元件(如運算放大器)配合使用時，此調(diào)整可用于設(shè)置不同的電平 或增益。設(shè)計人員使用數(shù)字電位計這樣的可變元件可設(shè)計出靈活的多功能系統(tǒng)。例如，在運算放大器中，用數(shù)字電位計作為反饋電阻，可以使運算放大器的增益根據(jù)輸入信號的幅度而交替。這樣，設(shè)計人員就可以減少元件數(shù)量(如多個運算放大器)，最大限度增加系統(tǒng)可支持的輸入信號類型，同時減小PCB尺寸。數(shù)字電位計具有小尺寸和多功能特性。

 

 

數(shù)字電位計和機械電位計具有一些共同點，在許多應(yīng)用中可以互換。兩者都是可調(diào)的，提供各種端到端電阻選項，可滿足對用戶可調(diào)電阻的需求。機械電位計相對于數(shù)字電位計的一些優(yōu)勢包括：可耐受更高電壓，載流能力更強，功耗也較大。然而，受設(shè)計制約，隨著時間的推移，機械電位計的性能可能改變，出現(xiàn)可 靠性問題。它們對沖擊和振動更加敏感，機械游標觸點電阻可能因氧化、老化和磨損而改變。這會縮短機械電位計的可用壽命。數(shù)字電位計由多個CMOS傳輸門組成(見圖1)。由于不存在機械元件，因此，數(shù)字電位計對沖擊、磨損、老化和觸點具有較高的耐受能力。

 

圖1. 數(shù)字電位計—內(nèi)部結(jié)構(gòu)

 

 

如所有元件一樣，在針對具體應(yīng)用選擇正確的元件時，有些因素是必須考慮的。各項規(guī)格的重要性排序取決于最終用途和其他系 統(tǒng)考慮因素。

 

表1. 選擇數(shù)字電位計時的重要考慮因素

 

了解這些考慮因素的最佳方法是查看它們?nèi)绾斡绊懱囟☉?yīng)用中數(shù)字電位計的選擇。因此，我們現(xiàn)在將更詳細地查看數(shù)字電位計的兩個重要用例。

 

數(shù)字電位計的常見應(yīng)用如下：

 

 

 

A數(shù)字電位計可用于仿真簡單的低分辨率數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)。圖2顯示了此設(shè)置以及部分常見術(shù)語。端到端電阻被定義為RAB，即A、B兩端子間的電阻。指的是游標和端子之間的電阻。圖2還列出了傳遞函數(shù)。

 

圖2. 作為低分辨率DAC的數(shù)字電位計

 

在此設(shè)置中，選擇數(shù)字電位計時需要注意三個關(guān)鍵參數(shù)：電源電壓范圍、數(shù)字電位計分辨率和線性度。

 

電源電壓¹和分辨率²是非常重要的考慮因素，因為這兩項規(guī)格涉及數(shù)字電位計可以通過的輸入范圍以及可以實現(xiàn)的不同電阻水平數(shù)量。數(shù)字電位計的線性度表示方式與DAC相似，即使用INL (積分非線性)和DNL (數(shù)字非線性)來衡量。INL指真實數(shù)字電位計與從零電 平到滿量程所畫理想直線之間的最大偏差。DNL指連續(xù)代碼的輸出與理想傳遞函數(shù)之差。

 

對于交流應(yīng)用，與直流電源相同的參數(shù)同樣適用(電源電壓范圍、分辨率和線性度)?？傊C波失真(THD)和帶寬這兩個重要因素也應(yīng)予以考慮。

 

 

數(shù)字電位計在改變運算放大器的增益時非常有用。運用數(shù)字電位計，可以精確設(shè)置和改變Rb/Ra增益比。利用增益控制的應(yīng)用包括音量控制、傳感器校準和液晶顯示屏中的對比度/亮度。然而，在配置過程中必須考慮數(shù)字電位計的多個特性。

 

如果在電位計模式下使用數(shù)字電位計，則在電阻從零電平增至滿量程的過程中，必須知道數(shù)字電位計的傳遞函數(shù)。隨著間的電阻增加，間的電阻降低，這會形成對數(shù)傳遞函數(shù)。對數(shù)傳遞函數(shù)更適用于人耳和人眼響應(yīng)。(圖3(a))

 

如果應(yīng)用要求線性響應(yīng)，可通過以下方式線性化數(shù)字電位計：在變阻器模式下使用數(shù)字電位計(圖3(b))；采用游標DAC配置(圖3(c))；或通過線性增益設(shè)置模式，該功能為ADI digiPOT+系列器件(如AD5144)的獨有功能(圖3(d))。

 

圖3. 電位計配置

 

 

在變阻器模式下使用數(shù)字電位計，并將其與分立式電阻串聯(lián)，可以線性化輸出(圖3(b))。這種設(shè)計雖然簡單，但要維持系統(tǒng)精度，必須考慮一些設(shè)計因素。

 

出于不同原因，機械電位計和數(shù)字電位計都具有一定的電阻容差。對于機械電位計，容差可能因?qū)崿F(xiàn)可重復(fù)值的難度而變化。對于數(shù)字電位計，雖然制造工藝也會造成容差，但與機械電位計相比，其值的可重復(fù)性高得多。

 

分立式表貼電阻器的失調(diào)可能低至1%，而有些數(shù)字電位計的端到端電阻容差則可能高達20%。這種不匹配可能導(dǎo)致分辨率下降，結(jié)果可能造成嚴重問題，在無法實施監(jiān)控以補償誤差的開環(huán)應(yīng)用中尤其如此。在可以實施監(jiān)控的應(yīng)用中，因數(shù)字電位計本身極其靈活，因而可以通過簡單的校準程序來調(diào)整數(shù)字電位計的游標位置，并針對任何失調(diào)進行調(diào)整。

 

ADI公司的數(shù)字電位計產(chǎn)品組合的額定容差范圍為1%至20%，以滿足最為嚴苛的精度和準確度需求。某些數(shù)字電位計(如AD5258/AD5259)經(jīng)過誤差容差出廠測試，并將結(jié)果存儲在用戶可訪問的存儲器中，以便在生產(chǎn)時實現(xiàn)電阻匹配。

 

 

最后一種方法是使用ADI digiPOT+產(chǎn)品組合獨有的線性增益設(shè)置模式。圖3(d)展示了如何通過專有架構(gòu)對各個串的值進行獨立編程。運用此模式可通過固定一個串的輸出和設(shè)置另一個串的方式來實現(xiàn)線性輸出。這種方式類似于將變阻器模式下 的數(shù)字電位計與分立式電阻結(jié)合使用，但整體容差誤差低于1%，并且無需任何額外的并聯(lián)或串聯(lián)電阻。

 

這是電阻誤差所致，在兩個電阻串陣列中都很常見，可以忽略不計。圖4表明，兩個電阻之間的失配誤差在較高代碼下很小。當(dāng)代碼小于¼量程時，失配的確會超過±1%，但是，造成這種情況的原因是內(nèi)部CMOS開關(guān)電阻效應(yīng)增加了誤差，此誤差不能忽略。

 

圖4. 10k電阻失配誤差

 

存儲器在應(yīng)用中為何如此重要

 

在利用數(shù)字電位計設(shè)置電路電平，或者校準傳感器和增益設(shè)置時，數(shù)字電位計的上電狀態(tài)對于確保準確而快速的配置非常重要。數(shù)字電位計提供多種選項，以確保器件能以用戶首選狀態(tài)上電。數(shù)字電位計有兩類：

 

 

非易失性數(shù)字電位計還有一些其他選項：

 

 

廣泛的存儲器選項允許針對特定系統(tǒng)定制數(shù)字電位計選擇。例如，對于要求恒定調(diào)整的系統(tǒng)，可使用易失性數(shù)字電位計。對于只要求工廠測試校準的系統(tǒng)，則可使用OTP電位計。EEPROM數(shù)字電位計可用于保持上次游標位置，這樣，上電時，數(shù)字電位計可返回上次狀態(tài)，并且可在上電后繼續(xù)根據(jù)需要進行調(diào)整。

 

 

如上文所示，數(shù)字電位計可替代機械電位計來創(chuàng)建易用的可調(diào)節(jié)信號鏈，從而改善規(guī)格、可靠性和PCB面積。設(shè)計時考慮上述因素即可實現(xiàn)這些改善以及減少系統(tǒng)設(shè)計考慮因素。

 

 

¹ 通過數(shù)字電位計端子發(fā)送的信號僅限于最大和最小電源電壓。如果信號超過電源電壓，內(nèi)部ESD保護二極管會將信號箝位。對于交流信號，則可偏置信號，以維持單電源范圍，或者考慮使用雙電源數(shù)字電位計。

 

² 就如DAC一樣，分辨率指的是游標位置的數(shù)量。常見數(shù)為128、256個，最高可達1024個。

 

本文轉(zhuǎn)載自亞德諾半導(dǎo)體。