IGBT關(guān)斷損耗大、拖尾是嚴(yán)重制約高頻運(yùn)用的攔路虎。這問(wèn)題由兩方面構(gòu)成:
1)IGBT的主導(dǎo)器件—GTR的基區(qū)儲(chǔ)存電荷問(wèn)題。
2)柵寄生電阻和柵驅(qū)動(dòng)電荷,構(gòu)成了RC延遲網(wǎng)絡(luò),造成IGBT延遲開(kāi)和關(guān)。
這里,首先討論原因一的解決方法。解決電路見(jiàn)圖(1)。
圖1:提升IGBT開(kāi)關(guān)速度技巧(一)
所謂基區(qū)儲(chǔ)存效應(yīng)造成的拖尾,是由于GTR過(guò)度飽和,基區(qū)N過(guò)度轉(zhuǎn)換成P型。在關(guān)斷時(shí),由于P型半導(dǎo)體需要復(fù)合成本征甚至N型,這一過(guò)程造成了器件的拖尾。
圖2:提升IGBT開(kāi)關(guān)速度技巧(二)
這種方式已經(jīng)在邏輯IC里盛行。現(xiàn)在的超高速邏輯電路都采用這種結(jié)構(gòu),包括電腦中的CPU!我們已享用此原理,卻并不知道。
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