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國內(nèi)首臺自動光學(xué)檢測設(shè)備在廊坊市研制成功

發(fā)布時(shí)間:2011-09-07 來源:廊坊傳媒網(wǎng)

新聞事件:

事件影響:

  • 此項(xiàng)技術(shù)打破了國外的壟斷與技術(shù)封鎖 使進(jìn)口產(chǎn)品降價(jià)30%


日前,由坐落在三河燕郊的中國電子科技集團(tuán)第45所承擔(dān)的國際科技合作項(xiàng)目“自動光學(xué)檢測(AOI)設(shè)備技術(shù)合作”,通過了國家級驗(yàn)收,技術(shù)指標(biāo)達(dá)到了國外同類設(shè)備水平,標(biāo)志著自動光學(xué)檢測(AOI)設(shè)備實(shí)現(xiàn)了國產(chǎn)化,填補(bǔ)了國內(nèi)空白。

據(jù)了解,目前我國自動光學(xué)檢測系統(tǒng)(AOI)設(shè)備主要依賴進(jìn)口,這一領(lǐng)域一直被以色列、美國、日本等國家所壟斷。中國電子科技集團(tuán)第45所與加拿大開展了卓有成效的國際科技合作,共同研發(fā)自動光學(xué)檢測(AOI)設(shè)備,通過引進(jìn)、消化吸收、再創(chuàng)新,終于研制出了具有國際水平的自動光學(xué)檢測(AOI)設(shè)備,打破了國外的壟斷與技術(shù)封鎖,使進(jìn)口產(chǎn)品降價(jià)30%。

中國電子科技集團(tuán)第45所通過技術(shù)引進(jìn)和消化吸收,攻克了高速圖像采集和硬件處理技術(shù),缺陷識別和處理技術(shù),細(xì)微圖形采像技術(shù)等三項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù),并成功應(yīng)用于AOI設(shè)備的研制,目前已獲得專利4項(xiàng),申報(bào)并受理發(fā)明專利6項(xiàng),發(fā)表學(xué)術(shù)論文6篇,獲省部級科學(xué)技術(shù)二等獎1項(xiàng)。該項(xiàng)目的完成,標(biāo)志著我國在自動光學(xué)檢測設(shè)備領(lǐng)域已具備與國外主流設(shè)備展開競爭的實(shí)力,提高了我國電子專用檢測設(shè)備的制造水平。

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