- 具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負(fù)載
- 單個(gè)全尺寸機(jī)箱中組合多種儀器的功能
- 可源出或吸入高達(dá)2,000W脈沖功率或200W直流功率
- 提供數(shù)字化和積分測(cè)量模式
- 提供了業(yè)內(nèi)可用的最寬動(dòng)態(tài)范圍
- 測(cè)試測(cè)量
吉時(shí)利儀器公司，作為全球先進(jìn)電子測(cè)試儀器和系統(tǒng)的領(lǐng)先制造商，日前推出2600A系列源表中的最新產(chǎn)品2651A型高功率源表(System SourceMeter®)儀器。2651A型專(zhuān)門(mén)為高功率電子的特性分析而優(yōu)化設(shè)計(jì)，提供業(yè)內(nèi)可用的最寬電流量程。該量程對(duì)于各種各樣的研發(fā)、可靠性及生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用至關(guān)重要，例如測(cè)試高亮度LED (HBLED)、功率半導(dǎo)體、DC-DC轉(zhuǎn)換器、電池，以及其他高功率材料、元件、模塊和組件。
與2600A系列的每個(gè)產(chǎn)品成員一樣，2651A具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負(fù)載，組合了精密電壓和電流表。該源表在單個(gè)全尺寸機(jī)箱中組合了多種儀器的功能：半導(dǎo)體特性分析儀、精密電源、真電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載，以及觸發(fā)控制器，并且通過(guò)吉時(shí)利的TSP-Link®技術(shù)可完全擴(kuò)展為多通道嚴(yán)格同步系統(tǒng)。與競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品具備有限的功率、測(cè)量速度和/或分辨率不同，2651A型可源出或吸入高達(dá)2,000W脈沖功率(±40V，±50A)或200W直流功率(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A)。該數(shù)字源表還能夠以高達(dá)1微秒每讀數(shù)的速率精密測(cè)量低達(dá)1pA和100 μV的信號(hào)。
兩種測(cè)量模式：數(shù)字化或積分
2651A型可選擇數(shù)字化或積分測(cè)量模式，用于對(duì)瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為進(jìn)行精密特性分析。兩個(gè)獨(dú)立的模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器定義每種模式——一個(gè)用于電流，另一個(gè)用于電壓，可同時(shí)用于精密電源讀回，不會(huì)影響測(cè)試效率。
數(shù)字化測(cè)量模式的18位A/D轉(zhuǎn)換器能夠以1微秒每點(diǎn)進(jìn)行連續(xù)采樣，每秒可捕獲多達(dá)100萬(wàn)個(gè)讀數(shù)，使其成為波形捕獲及高精度測(cè)量瞬態(tài)特征的最佳選擇。而競(jìng)爭(zhēng)方案必須通過(guò)對(duì)多個(gè)讀數(shù)進(jìn)行平均來(lái)產(chǎn)生一次測(cè)量結(jié)果，并且往往不能測(cè)量瞬態(tài)行為。
積分測(cè)量模式基于22位A/D轉(zhuǎn)換器，優(yōu)化了儀器在需要最高可能測(cè)量準(zhǔn)確度和分辨率應(yīng)用中的工作性能。這樣可確保精密測(cè)量新一代器件中的極小電流和電壓。全部2600A系列儀器均具有積分測(cè)量工作模式。
寬動(dòng)態(tài)范圍適用于更寬范圍的應(yīng)用
通過(guò)TSP-Link并聯(lián)兩個(gè)2651A單元，可將系統(tǒng)的電流量程從50A提高至100A。這比最接近的競(jìng)爭(zhēng)方案高兩倍半至五倍。兩個(gè)單元串聯(lián)時(shí)，電壓量程可從40V提高至80V。全部2600A系列儀器中的嵌入式測(cè)試腳本處理器(TSP®)使用戶能夠?qū)⒍鄠€(gè)單元作為單臺(tái)儀器進(jìn)行尋址，使其一致動(dòng)作，從而簡(jiǎn)化測(cè)試。2651A型的內(nèi)置觸發(fā)控制器能夠以500納秒同步所有鏈接通道的工作。2651A型的這些功能提供了業(yè)內(nèi)可用的最寬動(dòng)態(tài)范圍，使其非常適合于各種大電流、大功率測(cè)試應(yīng)用，包括：
- 功率半導(dǎo)體、HBLED和光器件特性分析和測(cè)試
- GaN、SiC及其他復(fù)合材料和器件的特性分析
- 半導(dǎo)體結(jié)溫特性分析
- 可靠性試驗(yàn)
- 高速、高精度數(shù)字化
- 電遷移研究
高速脈沖防止測(cè)試期間器件自熱
為了將器件在測(cè)試期間的自熱（這也是大功率半導(dǎo)體和材料的普遍問(wèn)題）降至最小，2651A型提供了高速脈沖功能，使用戶能夠以高準(zhǔn)確度源出和測(cè)量脈沖。脈寬從100μs至DC、占空比從1%至100%可編程。而競(jìng)爭(zhēng)方案通常受限于儀器占空比編程靈活性。
強(qiáng)大的測(cè)試腳本開(kāi)發(fā)工具
儀器中嵌入了吉時(shí)利基于LXI的I-V測(cè)試軟件TSP Express，所以無(wú)需軟件安裝和編程。從基本到高級(jí)測(cè)試，TSP Express均能以簡(jiǎn)單三步提供器件數(shù)據(jù)：連接、配置和采集。它還簡(jiǎn)化了儀器連接，允許更高的脈沖水平。能夠以圖形或表格格式查看結(jié)果，然后導(dǎo)出至.csv格式文件，可用于電子表格軟件。還提供另外兩款用于創(chuàng)建測(cè)試序列的強(qiáng)大軟件工具。Test Script Builder應(yīng)用軟件支持TSP腳本的創(chuàng)建、修改、調(diào)試、運(yùn)行和管理。一款基于IVI的LabVIEW®驅(qū)動(dòng)簡(jiǎn)化了將2651A集成至LabVIEW測(cè)試序列的過(guò)程。
