- R&S公司參展第76屆中國電子展
- R&S公司展示時域和頻域測試與測量解決方案
- 為設計工程師帶來先進的技術(shù)
2010年11月3至5日，在上海新國際博覽中心舉辦的第76屆中國電子展上，R&S公司將展示其全面領先的時域和頻域測試與測量解決方案。
作為世界頂級的測試儀器、系統(tǒng)及方案提供商，R&S公司將展示R&S公司第一臺實時數(shù)字示波器：R&S®RTO，它采用了很多創(chuàng)新設計，擁有極佳的信號保真度—業(yè)內(nèi)最高的大于7位的動態(tài)有效位，極高的波形采集速度—高達每秒一百萬次的波形捕獲率，率先引入的數(shù)字觸發(fā)系統(tǒng)，具有硬件加速的測量和分析功能，同時帶有直觀高效的用戶界面。
高性價比通用示波器R&S®RTM，性能優(yōu)異，結(jié)構(gòu)緊湊，是低速率模擬和數(shù)字電路測試和調(diào)試的理想工具。
與示波器同時推出的RT-ZS有源探頭系列具有兩大創(chuàng)新設計：集成了微型按扭，可以預設功能控制示波器；集成探頭電壓表，可以精確測量直流電壓。所有這些創(chuàng)新功能都將給用戶帶來全新的真正快樂的工作體驗。
創(chuàng)新的信號分析儀R&S®FSVR，集多功能信號分析和頻譜分析及實時頻譜分析于一體。它是擁有業(yè)界最高測量頻率的實時頻譜儀(30GHz)，每秒250 000個頻譜處理能力，讓用戶能從新的視角觀察頻譜。頻譜瀑布圖，頻譜模板觸發(fā)，全息頻譜等實時功能更使任何信號都能輕松顯現(xiàn)。R&S® FSVR讓用戶以更少的投資獲取更多的信息，更是用戶應對各種測試與測量任務的得力工具。
此外，參觀者還將了解到R&S公司的“無需噪聲源的噪聲系數(shù)測量技術(shù)－R&S®ZVA-K30(R&S專利)”。該測量技術(shù)基于矢量網(wǎng)絡分析儀R&S®ZVA/ZVT平臺上，高達67GHz測量頻率，具有更高測量精度，更簡單的測量方法；而且單臺儀器上可同時測試16個被測件的噪聲系數(shù)，S參數(shù)與噪聲系數(shù)同時測量更是能夠輕松實現(xiàn)。
誠邀您親臨現(xiàn)場體驗。
時間：2010年11月3日至5日 地點：上海新國際博覽中心 3號館 3C012
