- 工作電壓可以覆蓋400V—900V區(qū)間
- 可兼容多晶穩(wěn)壓管結(jié)構(gòu)
- 高可靠性,高效率,高EAS能力
- 導(dǎo)通電阻低,動態(tài)參數(shù)優(yōu)
- 具有相對較小的芯片面積
- AC-DC功率電源,DC-DC轉(zhuǎn)換器
- PWM馬達(dá)驅(qū)動
S-RinTM產(chǎn)品采用了條形元胞結(jié)構(gòu),并優(yōu)化了元胞的工藝及設(shè)計尺寸。相對于采用其他結(jié)構(gòu)元胞的器件,在EAS能力方面具有較大的優(yōu)勢;此外,由于采用了尺寸較小的GR環(huán)作為其保護(hù)環(huán),這樣在相同規(guī)格的條件下,S-RinTM產(chǎn)品就具有相對較小的芯片面積,這一優(yōu)勢能有效降低成本,增加芯片的利用效率。
該系列產(chǎn)品優(yōu)化了柵氧化層的厚度和工藝質(zhì)量,提高了柵源擊穿電壓,從而提高了可靠性指標(biāo),并改善了器件的易損性;其突出表現(xiàn)在于對IDSS漏電的控制。與其他公司同類型的產(chǎn)品相比,S-RinTM產(chǎn)品在經(jīng)過HTRB可靠性試驗后,IDSS仍然可以維持在幾納安到十幾納安非常小的水平,且相對試驗前,基本不會增大,這就在很大程度上保證了器件在長時間工作之后,不會因為漏電增大失效而影響其正常使用。
此外,S-RinTM產(chǎn)品通過在工藝上對N-JFET的調(diào)整,減小JFET效應(yīng),使得器件的導(dǎo)通電阻減小,從而降低了器件工作時的溫升,提高了AC-DC系統(tǒng)的轉(zhuǎn)換效率。對多晶柵進(jìn)行了重?fù)诫s處理,以提高器件的響應(yīng)速度,從而使該系列產(chǎn)品在動態(tài)參數(shù)方面表現(xiàn)出了一定的優(yōu)勢。