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如何評(píng)測(cè)模擬開(kāi)關(guān)?

發(fā)布時(shí)間:2021-12-27 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】目前我手邊正在進(jìn)行的項(xiàng)目是打造一款機(jī)載軍事服務(wù)對(duì)講機(jī),它具有許多不同的信號(hào)路徑和隔離要求——簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),該設(shè)備與其他任何東西的隔離度都必須優(yōu)于100dB。由于涉及信號(hào)切換操作,因此當(dāng)其信號(hào)路徑應(yīng)該關(guān)斷時(shí),我們就需要表征開(kāi)關(guān)隔離特性。


目前我手邊正在進(jìn)行的項(xiàng)目是打造一款機(jī)載軍事服務(wù)對(duì)講機(jī),它具有許多不同的信號(hào)路徑和隔離要求——簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),該設(shè)備與其他任何東西的隔離度都必須優(yōu)于100dB。由于涉及信號(hào)切換操作,因此當(dāng)其信號(hào)路徑應(yīng)該關(guān)斷時(shí),我們就需要表征開(kāi)關(guān)隔離特性。


我們使用以下的電路板作為測(cè)試治具,針對(duì)來(lái)自三家不同供應(yīng)商的四路模擬開(kāi)關(guān)進(jìn)行開(kāi)/關(guān)比(即其隔離值)的評(píng)估:


如何評(píng)測(cè)模擬開(kāi)關(guān)?

圖 1:采用此測(cè)試治具電路板,針對(duì)各種四路模擬開(kāi)關(guān)的隔離值進(jìn)行測(cè)試。


該測(cè)試治具采用BNC (Bayonet Neill-Concelman)連接器建構(gòu),以實(shí)現(xiàn)輸入和輸出。銅屏蔽層置于連接器之間,以盡可能地確保測(cè)得的隔離值來(lái)自待測(cè)IC,而不是由于測(cè)試設(shè)置的任何人為影響所造成的。


如何評(píng)測(cè)模擬開(kāi)關(guān)?

圖2:銅屏蔽層置于測(cè)試治具板的BNC連接器之間。


由于該應(yīng)用針對(duì)高達(dá)3kHz的語(yǔ)音頻率,因此在高于6kHz的1個(gè)倍頻頻率下檢查其隔離值。10kΩ電阻值是在使用這些開(kāi)關(guān)時(shí)的預(yù)期電路阻抗。


其評(píng)測(cè)結(jié)果如下:


如何評(píng)測(cè)模擬開(kāi)關(guān)?

圖3:相對(duì)于路徑‘On’信號(hào)傳輸時(shí)的測(cè)試開(kāi)關(guān)隔離值。


我們得出的結(jié)論是,雖然不同設(shè)備之間存在一些差異,但如果都能按圖3底部所示的方式運(yùn)行,即開(kāi)啟兩個(gè)串聯(lián)部份而讓兩個(gè)分流部份都關(guān)閉,那么所有的設(shè)備都能相當(dāng)順利地運(yùn)作。


(來(lái)源:電子工程專(zhuān)輯,編譯:Susan Hong, EDN Taiwan,參考原文:Evaluating analog switches,by John Dunn)


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