這個(gè)解釋有幾個(gè)重點(diǎn)：1） 無光環(huán)境、反向偏壓、漏電流；2）任何二極管都存在暗電流；3）暗電流屬于元件的熱噪聲，隨機(jī)產(chǎn)生、無法消除。通俗一點(diǎn)：首先，這個(gè)電流并非來自外界的光子產(chǎn)生的，而是來自元件內(nèi)部的熱噪聲；其次，任何二極管都有一個(gè)理論特性即正向?qū)ā⒎聪蚪刂?，但現(xiàn)實(shí)中的二極管元件，反向不可能做到真正的截止（反向飽和電流為0），最后暗電流是沒辦法完全消除，只能通過TEC或者液氮降溫的方式來減小。

 

一般來說暗電流都很小，基本都在uA和nA量級，而在工業(yè)領(lǐng)域，暗電流測試屬于必測項(xiàng)，該測試指標(biāo)主要是用來判斷二極管元件是否擊穿以及晶圓工藝是否存在問題。那這么小的暗電流，我們該如何準(zhǔn)確、可靠的測量呢？有人說用一般的萬用表或者安培表就可以了，真的可以嗎？

 

乘風(fēng)破浪的姐姐們都很拼很努力，一幀一幀地?fù)讣?xì)節(jié)，再累再苦再折磨也要堅(jiān)持練到完美。工程師的日常更是挑戰(zhàn)不斷，任何細(xì)節(jié)bug都成為前進(jìn)的絆腳石。其實(shí)小電流的測試并沒有說的那么簡單，還是需要克服很多難點(diǎn)，這里簡單列舉最主要的幾個(gè)難點(diǎn)。

 

難點(diǎn)1：如何克服電流表帶來的輸入端壓降？

 

萬用表測量mA以上的電流時(shí)，電流表的內(nèi)阻基本可以忽略不計(jì)，但小電流的量級基本都在uA甚至nA級別，此時(shí)電流表的內(nèi)阻就不能忽略不計(jì)了，而電流表內(nèi)阻會(huì)帶來壓降，這個(gè)壓降就稱之為“輸入端壓降（voltage burden）”，這個(gè)指標(biāo)的大小直接會(huì)影響電流的測量精度：

 

 

 

舉個(gè)例子：假設(shè)Vs=0.7V、Is=100uA、Ifs=200uA、Rs=10KΩ、然后輸入端壓降為200mV：

 

那計(jì)算出來IM=（0.7V-0.2V（100uA/200uA））/10KΩ= 60uA

 

而理想情況下IM=0.7/10KΩ=70uA，則測試誤差=14%；

 

如果把輸入端壓降減小到200uV,  那整個(gè)測試IM=69.99uA  則測試誤差=0.01%；

 

結(jié)論：通過上面一個(gè)簡單的例子就可以說明，電流表的輸入端壓降會(huì)直接影響電流表的測量精度，輸入端壓降越大，電流的測量誤差就越大，而輸入端壓降越小，測量誤差就越小。

 

難點(diǎn)2：如何在測量電流時(shí)添加一個(gè)合適的反向偏壓？

 

常用的萬用表都只能解決測量的問題，但目前很多暗電流的測試都需要提供一個(gè)反向偏壓（Bias Voltage），為什么要加偏壓？一方面偏壓可以加速電子和空穴的遷移過程，減少電子和空穴的復(fù)合率，從而提高量子效率和響應(yīng)時(shí)間；但是反向電壓也不能無限制的增加，過大的偏壓有可能會(huì)導(dǎo)致二極管的反向擊穿等；另一方面，很多二極管屬于雪崩二極管如APD，它們本身需要一定的偏壓才能達(dá)到工作條件，形成雪崩效應(yīng)，縱觀目前的電流表和萬用表，都不具備提供偏壓的功能，因此必須在電流表的回路中加入電壓源，這樣會(huì)使測試系統(tǒng)變得復(fù)雜，引入更多干擾條件，導(dǎo)致整個(gè)暗電流的測試精度無法保證。

 

那相關(guān)行業(yè)（如LED/PD行業(yè)）在暗電流（帶偏壓）測試上都采用什么設(shè)備來進(jìn)行測試呢？通過對幾個(gè)行業(yè)的調(diào)研和走訪，發(fā)現(xiàn)目前暗電流測試主要有兩種選擇：

 

（1）SMU源測單元。一方面利用它的電壓源功能，可以完成反向偏壓的掃描，另一方面同時(shí)利用它的測量功能，完成小電流的測試，這個(gè)方案的優(yōu)點(diǎn)是電壓掃描范圍大，最高可到幾百伏，而電流的測量功能也能基本滿足nA級別的測試要求，缺點(diǎn)則是SMU的單價(jià)比較高，相對而言性價(jià)比就沒那么高了。

 

Keithley SMU 2600

 

（2）高精度的DMM或者皮安表。這兩個(gè)產(chǎn)品都屬于測量設(shè)備，可以用于暗電流測試，電流的測試精度甚至可以達(dá)到pA級別，產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn)是價(jià)格適中，測量精度較高；但這兩個(gè)產(chǎn)品的缺點(diǎn)是：1）無法提供偏壓，只能完成無偏壓環(huán)境下的暗電流測試；2）高精度萬用表的輸入端壓降比較高，會(huì)影響小電流的測試精度。

 

Keithley DMM 7510

 

目前5G大基建如火如荼，光通信行業(yè)呈現(xiàn)爆發(fā)式增長，帶寬和速度越來越快，不管是無源的光網(wǎng)絡(luò)如FTTx、光纖光纜，還是有源的光收發(fā)模塊、光芯片等等都對PD端的靈敏度提出了越來越高的要求，那么，靈敏度的提升必然對暗電流的要求也越來越苛刻，通過查閱很多規(guī)格書，相當(dāng)一部分的暗電流測試的要求都明確要求暗電流≤1nA，有的甚至要求≤幾百pA，同時(shí)偏壓要求在5-15V之間，有的電壓要求≥100V, 這對于DMM和皮安表來說基本無能為力。

 

Keithley 6485

 

那到底有沒有一款既可以提供偏壓掃描，又能進(jìn)行小電流測試的儀表呢？答案是有的，比如吉時(shí)利的6487就可以實(shí)現(xiàn)。我們先看下這個(gè)帶偏壓皮安表的幾個(gè)重要指標(biāo)：

 

●  10 fA resolution

●   ＜200uV burden voltage

●   支持電壓掃描和Analog output

● 掃描電壓范圍0-505V；

 

對于1、2和4三項(xiàng)指標(biāo)而言，完全滿足了文章前面提到的暗電流測試的要求，而且電壓源支持同步掃描并＞100V，同時(shí)帶模擬輸出功能，不僅能描繪I-V曲線、測試高阻器件，還可以應(yīng)用到fiber alignment以及PD on-wafer測試等光電典型應(yīng)用中。

 

 

PD On-Wafer Testing

 

 

High Resistance Testing

 

如果你正好要對二極管或者PD做暗電流的測試和評估，或者你在做光纖耦合或者PD on-wafer測試等相關(guān)的行業(yè)應(yīng)用，推薦了解一下Keithley的6487或者6482/2502(雙通道)的帶偏壓皮安表。