DAC類型

 

單極性電壓DAC只能提供正輸出或負輸出。本文將以 AD5676R 為單極性DAC的例子，說明如何進行精確校準。相同的方法可用于對其他類型的DAC進行必要的調(diào)整。

雙極性電壓DAC（如 AD5766 ）可以同時實現(xiàn)正輸出和負輸出。

 

電流輸出DAC通常用于乘法配置(MDAC)以提供可變增益，它們通常需要外部放大器來緩沖固定電阻上產(chǎn)生的電壓。

精密電流源DAC (IDAC)，例如 AD5770R 和 LTC2662，是一種新類別的DAC，可以在預定義范圍內(nèi)精確設置輸出電流，而無需任何額外的外部元器件。

 

DAC轉(zhuǎn)換函數(shù)理論和內(nèi)部誤差

 

理想數(shù)模轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的模擬輸出電壓或電流與輸入數(shù)字碼嚴格成比例，而與電源和基準電壓變化等干擾性外部影響無關。

 

對于一個理想電壓輸出DAC，輸入數(shù)字碼單步增加

對應的輸出增加稱為LSB，定義如下：

 

 

其中：

 

(VREF+)和(VREF-)分別為正負基準電壓。在某些情況下，(VREF-)等于地電壓(0 V)。

 

n為DAC的分辨率，單位為位。

 

LSBSIZE (V) 是DAC輸出的最小增量，單位為伏特。

 

這意味著，對于任何給定的輸入碼，一旦知道LSB，就應該能準確地預測DAC的電壓輸出。

 

 

在實踐中，DAC輸出的精度受到DAC增益和失調(diào)誤差（內(nèi)部誤差）以及信號鏈中其他元器件件（系統(tǒng)級誤差）的影響。例如，有些DAC集成了輸出放大器，而有些DAC則需要外部放大器，這便可能成為額外的誤差源。

 

在數(shù)據(jù)手冊中，最相關的技術規(guī)格是在術語部分中定義。對于DAC，該部分列出了失調(diào)誤差和增益誤差等參數(shù)。

 

零電平誤差衡量將零電平碼(0x0000)載入DAC寄存器時的輸出誤差。

 

圖1顯示了失調(diào)和增益誤差對單極性電壓DAC的轉(zhuǎn)換函數(shù)的影響。

 

增益誤差衡量DAC的量程誤差，如圖1紫線所示。增益誤差指DAC轉(zhuǎn)換特性的斜率與理想值的偏差。理想DAC的轉(zhuǎn)換特性以黑色顯示。

 

失調(diào)誤差是指轉(zhuǎn)換函數(shù)線性區(qū)內(nèi)實際輸出和理想輸出之間的差值，如圖1藍線所示。請注意，藍色轉(zhuǎn)換函數(shù)使用了插值方法以與y軸相交，得到負VOUT，從而確定失調(diào)誤差。

 

圖1.單極性DAC的失調(diào)誤差和增益誤差的表示。

 

通過圖4的藍色曲線可以看到增益誤差和失調(diào)誤差的影響。根據(jù)其隨溫度變化而發(fā)生的變化，也可定義同樣的參數(shù)。

零點誤差漂移衡量零點誤差隨溫度的變化。

增益誤差溫度系數(shù)衡量增益誤差隨溫度的變化。

失調(diào)誤差漂移衡量失調(diào)誤差隨溫度的變化。

 

溫度變化對電子系統(tǒng)的精度有重要影響。雖然DAC的內(nèi)部增益和失調(diào)誤差通常相對于溫度來指定，但系統(tǒng)中的其他元器件可能會對輸出的總失調(diào)和增益產(chǎn)生影響。

 

因此，即使DAC的INL和DNL非常有競爭力，也要考慮其他誤差，尤其是關于溫度的誤差。最新DAC指定總非調(diào)整誤差(TUE)來衡量包括所有誤差——即INL誤差、失調(diào)誤差、增量誤差以及在電源電壓和溫度范圍內(nèi)的輸出漂移——在內(nèi)的總輸出誤差。TUE用%FSR表示。

 

當數(shù)據(jù)手冊未指定DAC的TUE時，可以使用一種稱為RSS或和方根的技術來計算TUE，這種技術可用來將不相關的誤差源求和以進行誤差分析。

 

 

還有其他較小的誤差源，如輸出漂移等，因為其相關影響較小，所以通常予以忽略。

 

系統(tǒng)中每個元器件的每個規(guī)格必須轉(zhuǎn)換為相同的單位。這可以使用表2來完成。

 

表2.單位轉(zhuǎn)換矩陣

 

TUE是一個很好的指標，可簡明扼要地解釋在所有內(nèi)部誤差的影響下，DC DAC輸出的精度如何。但是，它沒有考慮系統(tǒng)級誤差，后者會根據(jù)DAC所在的信號鏈及其環(huán)境而不同。

 

值得注意的是，有些DAC的輸出級內(nèi)置緩沖器/放大器，在這種情況下，數(shù)據(jù)手冊規(guī)格反映了二者的影響，將其作為內(nèi)部誤差一部分。

 

系統(tǒng)級誤差

 

嘗試分析給定應用的DAC信號鏈誤差預算時，系統(tǒng)設計人員應考慮并驗證不同元器件的貢獻，關注系統(tǒng)預期的運行溫度。根據(jù)最終應用，信號鏈可能有許多不同的構建模塊，包括電源IC、緩沖器或放大器，以及不同類型的有源負載，這些都可能帶來系統(tǒng)級誤差。

 

基準電壓源

每個DAC都需要依靠基準電壓源來操作?；鶞孰妷涸词怯绊慏AC和整體信號鏈的精度的主要因素之一。

 

基準電壓源的關鍵性能規(guī)格也是在基準電壓源的單獨數(shù)據(jù)手冊中定義，例如 ADR45XX系列 ，或作為DAC數(shù)據(jù)手冊的一部分來定義（如果器件內(nèi)置基準電壓源以供用戶使用）。

 

壓差有時也稱為電源電壓裕量，定義為能夠使輸出電壓保持0.1%精度所需的輸入電壓與輸出電壓的最小電壓差。

 

溫度系數(shù)（TC或TCVOUT）指器件的輸出電壓變化與環(huán)境溫度變化之間的關系，用25°C時的輸出電壓進行歸一化處理。ADR4520/ADR4525/ADR4530/ADR4533/ADR4540/ADR4550 A級和B級的TCVOUT在下列三個溫度下經(jīng)過全面測試：−40°C、+25°C和+125°C。C級的TCVOUT在下列三個溫度下全面測試：0°C、+25°C和+70°C。該參數(shù)使用以下兩種方法指定。黑盒法是最常用的方法，會考慮整個溫度范圍的溫度系數(shù)；而領結(jié)法可以計算+25°C時最差情況的斜率，因此對于在+25°C時進行校準的系統(tǒng)更加有用。

 

對于某些DAC，外部基準電壓源的性能比集成基準電壓源更好。基準電壓直接影響轉(zhuǎn)換函數(shù)，因此，該電壓的任何變化都會導致轉(zhuǎn)換函數(shù)的斜率（即增益）成比例地變化。

 

值得注意的是，有些DAC內(nèi)置緩沖基準電壓源，在這種情況下，數(shù)據(jù)手冊規(guī)格反映了這些內(nèi)部模塊的影響，將其作為內(nèi)部誤差的一部分。

 

電壓調(diào)整率

每個充當電源的獨立IC都會定義電壓調(diào)整率，表示輸出響應輸入的給定變化而發(fā)生的變化。這適用于電源、緩沖器和基準電壓源IC，無論輸入如何，這些器件都應當保持輸出電壓穩(wěn)定。在數(shù)據(jù)手冊中，電壓調(diào)整率通常在環(huán)境溫度下指定。

 

負載調(diào)整率

負載調(diào)整率定義為輸出電壓隨負載電流變化而發(fā)生的增量變化。通常會緩沖電壓輸出，以減輕這種變化的影響。有些DAC可能不緩沖基準輸入。因此，當數(shù)字碼改變時，基準輸入阻抗也會改變，導致基準電壓改變。其對輸出的影響一般很小，但在高精度應用中應當考慮。在數(shù)據(jù)手冊中，負載調(diào)整率通常在環(huán)境溫度下指定。

 

焊接熱阻變化

焊接熱阻(SHR)變化與基準電壓源的關系最大。它指器件因進行回流焊而引起的輸出電壓永久變化，用輸出電壓百分比表示。欲了解更多信息，請參閱ADR45xx系列的數(shù)據(jù)手冊。一般而言，所有IC都會在某種程度上受到SHR變化的影響，但這并不總是可量化的，能否量化在很大程度上取決于應用的具體系統(tǒng)裝配。

 

長期穩(wěn)定性

長期穩(wěn)定性定義輸出電壓隨時間的變化，用ppm/1000小時來表示。PCB級老化處理可以提高應用的長期穩(wěn)定性。

 

開環(huán)校準理論

 

DAC信號鏈簡圖如圖2所示。黑框所示的模塊顯示了一個簡化的開環(huán)信號鏈，而灰框所示的模塊則是實現(xiàn)閉環(huán)信號鏈所需的額外器件的例子。

 

圖2.DAC信號鏈簡圖。

 

閉環(huán)方案需要其他元器件并通過軟件操縱數(shù)字數(shù)據(jù)，才能提供更精確的輸出。如果因為各種原因（空間、成本等）無法添加這些額外資源，開環(huán)解決方案仍然有效——只要它能提供所需的精度。本文解釋如何進行開環(huán)校準，就是為了幫助應對這種情況。

 

理論上，通過校準消除增益和失調(diào)誤差（其在沒有外部影響的情況下是恒定的）是很簡單的程序。DAC轉(zhuǎn)換函數(shù)的線性區(qū)域可建模為由以下方程描述的直線：

 

 

其中：

y為輸出。

m是計入增益誤差后轉(zhuǎn)換函數(shù)的斜率（如圖1紫線所示）。

x為DAC輸入。

c為失調(diào)電壓（如圖1藍線所示）。

 

理想情況下，m始終為1，c始終為0。實踐中會考慮DAC的增益和失調(diào)誤差，一旦知道，就可以在DAC輸入端進行校正，實現(xiàn)更接近理想DAC輸出的數(shù)字。將數(shù)字DAC輸入乘以增益誤差的倒數(shù)，便可消除增益誤差。將測得的失調(diào)誤差的相反數(shù)增加到數(shù)字DAC輸入，便可消除失調(diào)誤差。

 

下面的公式顯示了如何計算正確的DAC輸入以產(chǎn)生所需的電壓：

 

 

其中：

 

 

注意，失調(diào)誤差可以為正，也可以為負。

 

如何成功校準DAC信號鏈

 

本節(jié)以AD5676R為例說明如何實際校準DAC信號鏈中的失調(diào)和增益。所有測量都使用 EVAL-AD5676 評估套件，并且使能AD5676R內(nèi)部基準電壓源。EVAL-AD5676板和測量設置均為我們在示例中測量的信號鏈的一部分。該信號鏈的每個元器件（電路板上的電源IC、AD5676R、布局和連接器引入的寄生效應等）都會貢獻系統(tǒng)誤差。我們的意圖是說明如何校準該系統(tǒng)，從而為任何其他系統(tǒng)提供范例。

 

使用 EVAL-SDP-CB1Z Blackfin® SDP控制板(SDP-B) 來與EVAL-AD5676評估套件上的AD5676R通信，并且使用8位DMM來測量VOUT0的輸出電壓。使用一個氣候箱來控制整個系統(tǒng)（由EVAL-SDP-CB1Z、EVAL-AD5676和內(nèi)置基準電壓源的AD5676R組成）的溫度。

 

EVAL-AD5676按照用戶指南所述上電，鏈路配置如表3所示。

 

表3.用于所述測量的EVAL-AD5676評估板跳線配置

 

首先評估不同溫度下無校準(NoCal)的信號鏈誤差。考慮特定輸入碼的理想值和測量值的LSB差異，計算輸出誤差。此誤差包括DAC和EVAL-AD5676板上整體信號鏈的內(nèi)部誤差和外部誤差。無校準的輸出誤差如圖3所示。

 

圖3.EVAL-AD5676輸出誤差(LSB)，無校準。

 

計算失調(diào)和增益誤差所需的信息以及相應的校正碼，位于轉(zhuǎn)換函數(shù)中。為此需要兩個點：一個數(shù)據(jù)點接近零點(ZSLIN)，另一個接近滿量程(FSLIN)。背后的道理是要在DAC的線性區(qū)域中工作。此信息通常與INL和DNL規(guī)格一起提供，最有可能在規(guī)格表的尾注中。例如，對于AD5676R，線性區(qū)域是從數(shù)字碼256到數(shù)字碼65280。

 

圖4解釋了DAC的線性區(qū)域。

 

圖4.單極性電壓DAC的轉(zhuǎn)換函數(shù)和誤差。

 

一旦確定ZSLIN和FSLIN碼，我們便可收集校準所需的測量結(jié)果，即在這兩個數(shù)字碼的DAC電壓輸出（ZSLIN處的VOUT和FSLIN處的VOUT），加上這之間的其他幾個數(shù)字碼（¼量程、中間量程和¾量程）。

 

應在應用的工作溫度下收集測量結(jié)果。如果這不可能，一旦在環(huán)境溫度時收集到這兩個主要數(shù)據(jù)點，便可使用信號鏈中器件的數(shù)據(jù)手冊來推導所需的信息。

 

信號鏈中的每個器件都會貢獻誤差，每片板都不相同，因此應該單獨校準。

 

TempCal：工作溫度校準

 

通過測量應用環(huán)境在工作溫度時的誤差，并在寫入DAC以更新輸出時進行系統(tǒng)校正，可以實現(xiàn)最佳水平的校準。

 

為了使用這種方法校準DAC，在系統(tǒng)的預期工作溫度下，測量數(shù)字碼ZSLIN和FSLIN對應的DAC輸出。構建轉(zhuǎn)換函數(shù)如下：

 

 

其中：

VOE = 失調(diào)誤差(V)

VFS,LIN,ACT =  FSLIN的實際輸出

VZS,LIN,ACT =  ZSLIN的實際輸出

VFS,LIN,IDEAL = FSLIN的理想輸出

VZS,LIN,IDEAL = ZSLIN的理想輸出

注意，失調(diào)誤差可以為正，也可以為負。

 

圖5顯示了EVAL-AD5676評估套件采用TempCal方法所實現(xiàn)的輸出誤差。

 

圖5.不同溫度下使用TempCal的系統(tǒng)輸出誤差(LSB)。

 

SpecCal：使用規(guī)格進行校準

 

如果無法測量應用環(huán)境在工作溫度時的誤差，使用AD5676R數(shù)據(jù)手冊和環(huán)境溫度時校準的DAC轉(zhuǎn)換函數(shù)仍可實現(xiàn)高水平的校準。

 

為了使用這種方法校準DAC，應在環(huán)境溫度下測量數(shù)字碼ZSLIN和FSLIN對應的DAC輸出。通過計算環(huán)境溫度下的增益和失調(diào)誤差并應用公式14，按照TempCal部分所述構建轉(zhuǎn)換函數(shù)。

 

 

其中：

GEamb = 環(huán)境溫度下的增益誤差

VOE,amb = 環(huán)境溫度下的失調(diào)誤差(V)

 

在環(huán)境溫度下校準DAC信號鏈可解決系統(tǒng)級誤差。但是，溫度變化導致的外部誤差變化未予考慮；因此，這種校準方法不如TempCal方法精確。

 

工作溫度變化導致的DAC內(nèi)部誤差（即失調(diào)和增益誤差）漂移，可以使用數(shù)據(jù)手冊規(guī)格來解決。這就是我們所說的SpecCal。失調(diào)誤差漂移的典型值列在AD5676R數(shù)據(jù)手冊的技術規(guī)格表中，失調(diào)誤差與溫度關系的典型性能參數(shù)(TPC)表示誤差漂移的方向，這取決于環(huán)境溫度是提高還是降低。

 

 

溫度導致的增益誤差變化由增益誤差與溫度關系的TPC表示。從圖中確定增益誤差的% FSR，然后應用公式16。

 

 

估算出工作溫度下的失調(diào)誤差和增益誤差后，我們便可使用公式17來確定SpecCal輸出對應的輸入碼。

 

 

其中：

 

 

圖6顯示了EVAL-AD5676評估套件采用SpecCal方法所實現(xiàn)的輸出誤差。

 

圖6.不同溫度下使用SpecCal的系統(tǒng)輸出誤差(LSB)。

 

此例中使用了內(nèi)部基準電壓源。外部基準電壓源可能會增加整體誤差?；鶞孰妷涸匆鸬恼`差可利用基準電壓源數(shù)據(jù)手冊并考慮目標溫度時的基準電壓漂移來解決?；鶞孰妷旱淖兓瘯淖儗嶋H輸出范圍，從而改變LSB大小。使用外部基準電壓源應能解決此問題。溫度與輸出電壓關系的TPC可用來確定基準電壓漂移引起的輸出范圍變化。

 

 

其中：

 

 

結(jié)論

 

本文概述了DAC信號鏈誤差的一些主要原因，包括數(shù)據(jù)手冊中定義的DAC內(nèi)部誤差，以及隨系統(tǒng)而變化且開環(huán)應用必須予以考慮的系統(tǒng)級誤差。

 

本文討論了兩種校準方法：一種用于DAC可以在系統(tǒng)工作溫度下進行校準的情況，另一種用于無法在工作溫度下進行校準，但可以在環(huán)境溫度下進行測量的情況。第二種方法使用信號鏈中DAC和其他IC的數(shù)據(jù)手冊中提供的TPC和技術規(guī)格來解決增益和失調(diào)誤差漂移。

 

TempCal方法可以實現(xiàn)比SpecCal好得多的精度。例如，對于50°C時的EVAL-AD5676板，圖7顯示TempCal方法實現(xiàn)的精度非常接近理想精度，而SpecCal方法相對于NoCal數(shù)據(jù)仍然有一定的改進。

 

圖7.NoCal、SpecCal和50°C TempCal的系統(tǒng)輸出誤差(LSB)。

 

溫度變化對電子系統(tǒng)的精度有重要影響。在系統(tǒng)工作溫度進行校準可以消除大部分誤差。如果這不可能，可以使用DAC和其他IC的數(shù)據(jù)手冊中提供的信息來解決溫度變化問題，實現(xiàn)可接受的精度。

（來源：亞德諾半導體）