在應(yīng)用頻率下測試電感(一)
發(fā)布時(shí)間:2019-12-12 責(zé)任編輯:wenwei
【導(dǎo)讀】準(zhǔn)確地測量電感總是比測量其他無源元件要困難一些。測量線圈的主要困難在于,線圈電感和它的效率在很大程度上受頻率的影響;同樣地,線圈寄生效應(yīng)(分布電容和鐵芯/銅線電阻損耗)會(huì)隨頻率的變化而發(fā)生顯著的變化。在應(yīng)用頻率下測量線圈即“使用頻率測試”要比在傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)頻率下測試更能代表電路中元件的基值。
通常,測量頻率僅為方便測量而規(guī)定。如果測量頻率不是電路(或“使用”)頻率,測試結(jié)果一般不能夠取得與指定電路相同的電感值或展示相同的效率。鑒于設(shè)備和方法最近得到了發(fā)展并且現(xiàn)在能夠靈活地選擇測試頻率,應(yīng)該在實(shí)際的使用頻率下去測試電感,尤其是當(dāng)有高精度的要求時(shí)。
電感參數(shù)
一個(gè)線圈的主要電氣參數(shù)是電感、Q(效率)、直流電阻(DCR)和自諧頻率(SRF)。所有主要電氣參數(shù)由設(shè)計(jì)控制,雖然不是完全地。電感和Q經(jīng)常在很大程度上受所使用的測試儀表和測試頻率的影響。
Q是元件儲(chǔ)存能量同損耗能量之比。Q反映電感的能量儲(chǔ)存能力,它與測量頻率成正比,與相同頻率下元件產(chǎn)生的電阻(銅線和鐵芯)損耗成反比。
DCR是電感在通上不變的直流電時(shí),電感中的銅線對(duì)電流的阻力。DCR讓我們了解因電感加入到電路而在電路中發(fā)生的插入損耗。DCR還說明僅僅是在發(fā)熱的情況下電感會(huì)消耗多少能量。
當(dāng)頻率超過SRF時(shí),元件的作用就不再是電感。SRF由(低頻)電感和線圈的匝間有效電容的并聯(lián)組合決定。
測試設(shè)備
測試方法的適當(dāng)選取在很大程度上決定測量的準(zhǔn)確度。不同的電氣參數(shù)所使用的測試儀和測試方法不同,并且每臺(tái)儀表都有量程、頻率和誤差。寄生效應(yīng)和測試夾具的影響是測量中不可忽視的因素。一般情況下必須對(duì)儀表、夾具、頻率和電流(如適用)進(jìn)行規(guī)定以實(shí)現(xiàn)可重復(fù)和可靠的測試。
阻抗分析儀一般用于測量電感元件的電感和Q。一直以來也有人使用網(wǎng)絡(luò)分析儀來測量Q??梢杂昧阆辔环ㄔ诰W(wǎng)絡(luò)分析儀上測量SRF。DCR通常用低電阻表測量。
測試儀的選擇還影響測量值。儀表的影響是因每臺(tái)設(shè)備使用不同的測量方法和頻率而造成的。
部份的差異可歸因于不同的儀表,但主要是由于不同的頻率。總之,正確的儀表應(yīng)該是能夠在所要求的頻率下進(jìn)行準(zhǔn)確和可重復(fù)性測試的儀表。
測定電感的傳統(tǒng)方法
幾十年來,Q表是測定L和Q參數(shù)值的傳統(tǒng)方法。然而,Q表要求測試頻率在其振蕩器的范圍內(nèi)和調(diào)諧電容器的極限范圍內(nèi)。同時(shí),Q表測量的電感是以電容(pF)來表示的。Q表也有比中頻更易于使用的特定頻率(稱為藍(lán)線),因?yàn)檎{(diào)諧電容器上的附加刻度盤能夠直讀電感。
市面上供應(yīng)的Q表的精確度為3%甚至更低。Q表誤差需要使用設(shè)定“標(biāo)準(zhǔn)件”(被確定為有特定和精確值的高精度元件)。校正件如同供應(yīng)商和用戶確定的有特值的標(biāo)準(zhǔn)。校正件被視為特定的標(biāo)準(zhǔn)元件,并且在每次測試時(shí)用來設(shè)置每臺(tái)儀表。校正仍然是最精確的方法,此方法誤差小,可重復(fù)性高,并且在任何頻率下都適用。然而,校正方法存在嚴(yán)重的后勤缺陷:制造商和客戶之間對(duì)校正件的制定和計(jì)量,和每次測試調(diào)試儀表的工作。
其他電氣參數(shù)SRF和DCR一般是根據(jù)L和Q來規(guī)定的,對(duì)其使用的測試方法卻很少有說明。缺少SRF和DCR的具體測試方法表明電感是主要參數(shù)并且需要謹(jǐn)慎控制。
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